Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів
7

Reactivity of 3D hexagonal mesoporous silica films to environment studied by infrared ellipsometry

Рік:
2004
Мова:
english
Файл:
PDF, 119 KB
english, 2004
10

Infrared ellipsometric study of SiO2 films: relationship between LO mode frequency and porosity

Рік:
2000
Мова:
english
Файл:
PDF, 130 KB
english, 2000
11

Visible and infrared ellipsometry study of ion assisted SiO2 films

Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 186 KB
english, 1998
13

Infrared ellipsometry investigation of SiO_xN_y thin films on silicon

Рік:
1996
Мова:
english
Файл:
PDF, 393 KB
english, 1996
14

Making an Omnidirectional Reflector

Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 165 KB
english, 2001
15

Optical properties of sputtered hydrogenated amorphous carbon

Рік:
2000
Мова:
english
Файл:
PDF, 117 KB
english, 2000
19

Reactivity of 3D hexagonal mesoporous silica films to environment studied by infrared ellipsometry

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 119 KB
english, 2003
23

Microstructural characterization of ion assisted SiO[sub 2] thin films by visible and infrared ellipsometry

Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 389 KB
english, 1998
24

Change of TO and LO mode frequency of evaporated SiO[sub 2] films during aging in air

Рік:
2000
Мова:
english
Файл:
PDF, 426 KB
english, 2000